Determinación por Difracción de Hayos X de ZnS (Esfalerita) en minerales donde el FeS2 (Pirita) es una fase mayoritaria
Resumen
El mérito fundamental de la Difración de Rayos X (DRX) en el análisis de fases cristalinas, se fundamenta en que a cada fase le es característico un patrón de difracción definido por un conjunto de pares de valores de distancias interplanares dhk1 y de intensidades relativas Ir, lo que posibilita en principio, identificar una fase determinada aún cuando incluso estén presentes otras fases.
Descargas
Publicado
Cómo citar
Número
Sección
Licencia
Derechos de autor 1985 Copyright (c) 1985 Revista CENIC Ciencias Químicas

Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0.
Los autores que publican en esta revista están de acuerdo con los siguientes términos:
Los autores conservan los derechos de autor y garantizan a la revista el derecho de ser la primera publicación del trabajo al igual que licenciado bajo una Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 que permite a otros compartir el trabajo con un reconocimiento de la autoría del trabajo y la publicación inicial en esta revista.
Los autores pueden establecer por separado acuerdos adicionales para la distribución no exclusiva de la versión de la obra publicada en la revista (por ejemplo, situarlo en un repositorio institucional o publicarlo en un libro), con un reconocimiento de su publicación inicial en esta revista.
Se permite y se anima a los autores a difundir sus trabajos electrónicamente (por ejemplo, en repositorios institucionales o en su propio sitio web) antes y durante el proceso de envío, ya que puede dar lugar a intercambios productivos, así como a una citación más temprana y mayor de los trabajos publicados (Véase The Effect of Open Access) (en inglés).












